长度测量
长度测量
封闭式光栅尺能有效防尘、防切屑和防飞溅的切削液，是用于机床的理想选择。
敞开式光栅尺与读数头和光栅尺或钢带间没有机械接触。这些光栅尺的典型应用包括：测量机、比较仪和其它长度计量精密设备以及生产和测量设备，例如用在半导体工业中。
增量式光栅尺决定当前位置的方式是由原点开始数测量步距或细分电路的计数信号数量。海德汉的增量式光栅尺带有参考点，开机时必须执行参考点回零，操作非常简单、快捷。
绝对式光栅尺无需执行参考点回零操作就能直接提供当前位置值。光栅尺的绝对位置值通过EnDat接口或其它串行接口传输。
封闭式直线光栅尺
海德汉公司的封闭式直线光栅尺能有效防 尘、防切屑和防飞溅的切削液，是用于机 床的理想选择。
精度等级 ± 2 μm
测量步距至 0,001 μm
测量长度至30 m
安装简单、快捷
安装公差大
能承受大加速度载荷
抗污染能力强
封闭式直线光栅尺有
标准光栅尺外壳
– 用于振动强烈的应用
– 最大测量长度30 m紧凑光栅尺外壳
– 用于有限安装空间应用
– 最大测量长度1240 mm， 如果用安装板或紧固件，最大测量长 度2040 mm
海德汉封闭式直线光栅尺的铝外壳有效保 护光栅尺、读数头和导轨，避免其受灰 尘、切屑和切削液的影响。 自动向下压的 弹性密封条保持外壳密封。
读数头沿光栅尺的小摩擦力导轨运动。 读 数头通过一个联轴器与外部安装架连接， 联轴器可以补偿光栅尺与机床导轨间不可 避免的对正误差。
敞开式直线光栅尺
敞开式直线光栅尺设计用于对测量精度要求极高的机床和系统。
典型应用包括：
半导体业的测量和生产设备
PCB电路板组装机
超高精度机床
高精度机床
测量机和比较仪，测量显微镜和其它精密测量设备
直驱电机
绝对式编码器
| 系列 | 说明 |
|---|---|
| LIC | LIC敞开式直线光栅尺能够对行程达28 m和高速运动进行绝对位置测量。其尺寸和安装方式与LIDA 400相同。 |
输出位置值的编码器
| 系列 | 说明 |
|---|---|
| LIP 200 | LIP 211和LIP 291增量式直线光栅尺输出位置值的位置信息。正弦扫描信号在读数头中被高倍频细分且其计数功能将细分的信号转换成位置值。与所有增量式编码器一样，借助参考点确定绝对原点。 |
增量式编码器
| 系列 | 说明 |
|---|---|
| LIP | 超高精度 LIP敞开式直线光栅尺拥有极小的测量步距，极高的精度和重复精度。扫描方式为干涉扫描，测量基准为DIADUR相位光栅。 |
| LIF | 高精度 LIF敞开式直线光栅尺的测量基准是SUPRADUR工艺制造的玻璃基体光栅，采用干涉扫描方法。特点是精度高和重复精度高，安装特别简单，有限位开关和回零轨。特殊型号的LIF 481 V可用于10–7 bar的真空环境中（参见其单独“产品信息”）。 |
| LIDA | 高速运动和大测量长度 LIDA敞开式直线光栅尺特别适合运动速度达10 m/s的高速运动应用，支持多种安装方式，安装特别简单。根据相应应用要求，metaLLUR光栅的基体可为钢带，玻璃或玻璃陶瓷。也有限位开关。 |
| PP | 二维坐标测量 PP二维编码器的测量基准是平面DIADUR工艺制造的相位光栅，采用干涉扫描方法。用于测量平面中位置。 |
| LIP/LIF | 高真空和超高真空技术 我们的标准编码器适用于低真空或中等真空应用。高真空或超高真空应用的光栅尺需要满足一些特殊要求。采用的设计和材质必须满足应用要求。更多信息，参见“真空中应用的直线光栅尺”产品信息。 以下敞开式直线光栅尺专用于高真空或超高真空应用环境。 • 高真空：LIP 481 V和LIF 481 V |
海德汉敞开式直线光栅尺的全新信号处理ASIC芯片
海德汉敞开式直线光栅尺是极高精度定位或高准确性运动的理想选择。为确保光栅尺在整个生命周期中都满足高精度要求，海德汉最新开发了全新ASIC信号处理芯片：HSP 1.0。有关该芯片如何接近完美地补偿信号变化和恢复最初的信号质量，请看视频。
